為更好的做好設(shè)備,不斷進(jìn)行實(shí)驗(yàn)是必有之路,昨日忙了一整天,對(duì)用戶提供的N42M進(jìn)行**測(cè)量,考察不同厚度、不同極頭材料對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)的影響。
一、樣品制備:樣品直徑12.15mm,無(wú)鍍層,加工:線切割成不同厚度,平磨處理。1#樣品厚度:20.87mm、2#樣品厚度:9.93mm、3#樣品厚度:7.49mm。
二、脈沖充磁機(jī)充磁磁場(chǎng):8.1T ,對(duì)測(cè)試樣品測(cè)試前進(jìn)行飽和磁化。
三 、測(cè)試實(shí)驗(yàn)
1、采用純鐵極頭測(cè)試(極面直徑140mm收縮到100mm),測(cè)試溫度:20±1℃,測(cè)量時(shí)間:120s測(cè)試結(jié)果如下:
樣品
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Br(T)
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Hcb(kA/m)
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Hcj(kA/m)
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Hk( kA/m)
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BHmax(kJ/m3)
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Hmax(kA/m)
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3#-2
|
1.336
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972.3
|
1113
|
1016
|
338.2
|
1446
|
3#-1
|
1.334
|
971.5
|
1113
|
1016
|
337.5
|
1266
|
2#-2
|
1.343
|
974.5
|
1113
|
1012
|
340.2
|
1530
|
2#-1
|
1.341
|
973.9
|
1114
|
1013
|
339.6
|
1532
|
1#-2
|
1.340
|
975.2
|
1105
|
1018
|
340.4
|
1141
|
1#-1
|
1.343
|
977.5
|
1106
|
1021
|
342.1
|
1145
|
實(shí)驗(yàn)證明:考慮加工可能存在差異,以及測(cè)試設(shè)備自身不確定度存在。但長(zhǎng)度對(duì)測(cè)試的影響看不出,以前教科書(shū)上要求樣品長(zhǎng)度大于8mm沒(méi)有搞清楚其原因,原文為“為保證樣品在磁場(chǎng)的1%的均勻區(qū)內(nèi),試樣的幾何尺寸的大小與電磁鐵極頭之間的關(guān)系為:D>d+l.2L、D>2L,其中試樣的長(zhǎng)度L要求大于8mm”。
2、采用鐵鈷合金極頭測(cè)試(極面直徑140mm收縮到60mm),測(cè)試溫度:20±1℃,測(cè)量時(shí)間:120s測(cè)試結(jié)果如下:
樣品
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Br(T)
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Hcb(kA/m)
|
Hcj(kA/m)
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Hk(kA/m)
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BHmax(kJ/m3)
|
Hmax(kA/m)
|
3#-02
|
1.338
|
974.8
|
1115
|
1021
|
339.4
|
1309
|
3#-01
|
1.338
|
975.1
|
1116
|
1022
|
339.6
|
1309
|
2#-02
|
1.341
|
975.5
|
1114
|
1017
|
340.1
|
1469
|
2#-01
|
1.341
|
974.2
|
1113
|
1015
|
339.7
|
1465
|
1#-02
|
1.34
|
973.7
|
1098
|
1012
|
340.3
|
1143
|
1#-01
|
1.348
|
978.7
|
1102
|
1014
|
344.2
|
1148
|
實(shí)驗(yàn)證明:至少N42M材料,采用鐵鈷合金極頭和采用純鐵極頭沒(méi)有明顯差異。以前與同行比對(duì),測(cè)試過(guò)高內(nèi)稟矯頑力材料Hk在兩種極頭材料的情況下存在差異,是否以前測(cè)試有問(wèn)題?后期準(zhǔn)備將N38SH降低厚度去掉鍍Ni包裹層,滿足現(xiàn)有設(shè)備純鐵極頭測(cè)量,再進(jìn)行實(shí)驗(yàn)。
3、下午采用鐵鈷合金極頭測(cè)試3#樣品,改變測(cè)試時(shí)間,測(cè)試結(jié)果如下:
測(cè)試時(shí)間
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Br(T)
|
Hcb(kA/m)
|
Hcj(kA/m)
|
Hk(kA/m)
|
BHmax(kJ/m3)
|
Hmax(kA/m)
|
3#-30s
|
1.331
|
969.7
|
1113
|
1014
|
335.9
|
1451
|
3#-40s
|
1.332
|
969.5
|
1104
|
1013
|
336.2
|
1126
|
3#-60s
|
1.333
|
971.6
|
1116
|
1019
|
337
|
1224
|
3#-90s
|
1.333
|
970.3
|
1104
|
1011
|
337.2
|
1300
|
3#-120s
|
1.334
|
969.7
|
1100
|
1008
|
337.6
|
1323
|
3#-180s
|
1.333
|
970.3
|
1102
|
1011
|
337.4
|
1348
|
3#-240s
|
1.331
|
969.7
|
1100
|
1012
|
336.7
|
1362
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實(shí)驗(yàn)證明:與上午3#比較整體性能稍微偏低,分析應(yīng)該是測(cè)試溫度引起的差異。但可以排除由于掃描時(shí)間快慢引入的測(cè)試偏差。如果可以,將讓我們的用戶合理提高測(cè)試速度,提高設(shè)備效率。注意:要提高測(cè)試速度,設(shè)定的測(cè)試電壓需要更高,這是常識(shí)。
**實(shí)驗(yàn)做下來(lái),獲得一些我想要求證的結(jié)果,不同厚度影響和測(cè)試時(shí)間影響較小;沒(méi)有獲得不同極頭材料對(duì)測(cè)試Hk影響較大(這是我希望發(fā)生的),所以還需要進(jìn)一步做**cj的材料實(shí)驗(yàn)。